×

Registration

Profile Informations

Login Datas

or login

First name is required!
Last name is required!
First name is not valid!
Last name is not valid!
This is not an email address!
Email address is required!
This email is already registered!
Password is required!
Enter a valid password!
Please enter 6 or more characters!
Please enter 16 or less characters!
Passwords are not same!
Terms and Conditions are required!
Email or Password is wrong!

Программное обеспечение

Мы успешно внедряем на производства металлургической, машиностроительной, горно-добывающей, химической, атомной промышленности, микроэлектроники и в различные НИИ программно-аппаратные комплексы исследования микроструктуры изучаемых образцов на соответствие различным стандартам (ГОСТ, ISO, ASTM, DIN, внутренним стандартам предприятия и др.)

 

Металлография:

Модульная структура программного обеспечения включает в себя такие методики металлографического анализа для сталей, цветных металлов и сплавов, как:

Application_67

– Величина зерна в сталях и сплавах ГОСТ 5639, ASTM E112;

– Неметаллические включения в сталях и сплавах ГОСТ 1778 (методы Ш и К);

– Анализ графита в чугуне ГОСТ 3443;

– Относительное содержание феррита и перлита ГОСТ 8233;

– Измерение длин игл мартенсита ГОСТ 8233;

– Анализ межкристаллитной коррозии;

– Методы сравнения с эталонами стандартов и т.д.

 

Петрография:

Программное обеспечение позволяет проводить автоматизированный анализ горных пород, руды, продуктов обогащения и переработки, цементного клинкера, керна. ПО позволяет делать автоматические количественные измерения минерального состава, гранулометрического состава, степени раскрытия компонентов руды и рудных концентратов, определять (классифицировать) основные компоненты с выделением перечня классов (кварц, шпат, мусковит, биотит, обломки пород, карбонатный цемент и т. д.).

 

Биомедицина:

Application_1558

 

Программное обеспечение позволяет автоматизировать гистологические, цитологические, дерматовенерологические исследования.

 

 

Микроэлектроника:

 

 

Программное обеспечение анализатора может существенно повлиять на скорость и точность вашего исследования, анализа, измерения и документации в области микроэлектроники и полупроводниковой промышленности, сделать вашу работу более эффективной и быстрой.

 

Leica_DVM6_Wafer_550_coax-illumination_10MP

 

 

 

 

 

 

 

 

;